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ミツテック株式会社、株式会社XTIAとの SIer パートナー契約を締結

PR TIMES

ミツテック株式会社
自動外観検査の新たな可能性、インライン3次元寸法検査でモノづくりDXを加速

「外観検査プラットフォーム」事業を展開するミツテック株式会社(本社:兵庫県淡路市)は、ノーベル物理学賞受賞技術 「光コム」 による三次元計測技術を持つ株式会社XTIA(本社:東京都品川区)と SIer パートナー契約を2021年10月01日に締結しました。


ミツテック株式会社、株式会社XTIAとの SIer パートナー契約を締結
■パートナー契約の背景と今後のビジネス展開

ミツテック株式会社は、これまで電機や自動車業界を中心に、お客様の課題を解決する「組立搬送工程」の自動化装置を高度なメカトロ技術で実現してきました。近年は、品質要求が厳しさを増す「外観検査工程」でも実績を重ね、ますます高度化する自動化要求にM&V※で挑戦を続けています。

※M&V:ミツテックの強みである、モノを動かす“Motion技術”とモノを視る“Vision技術”が生み出すシナジーのこと

今回の締結により、当社の 『外観検査プラットフォーム』 と革新的な光コムセンサが実現する高精度・高速な非接触三次元計測を組み合わせることで、お客様の生産ライン構築から外観検査、測定検査の自動化まで、シームレスでスムーズな課題解決を実現していきます。

外観検査プラットフォーム:https://premium.ipros.jp/mitsu/product/detail/2000613006/

■光コムセンサについて

『世界で最も精度の高いものさし』 と評される、ノーベル物理学賞受賞技術 「光コム」 による三次元計測を実現した革新的なセンサです。従来の非接触三次元計測技術が抱える、短焦点・短深度・低速といった技術課題や、角度・色といった測定対象に対する依存など、さまざまな課題を解決します。

詳細については以下のサイトをご覧ください。
光コム技術と優位性 :https://xtia.co.jp/technology
製品概要ビデオ(日本語):https://www.youtube.com/channel/UC8ofJmM9GRGFYsMLcwnLfEA

■株式会社XTIAについて

XTIAは、ノーベル物理学賞受賞技術「光コム」の産業応用に成功した、高い技術力を有する技術開発ベンチャーです。光コム技術を測定メソッドとして開発することにより、製造現場における測定・検査の自動化ニーズに応え、インダストリー4.0の実現に貢献します。自動検査を実現する検査装置の開発・販売、及び、光コム技術の提供により各社との提携を実施しています。

設立年 2002年4月
住所  東京都品川区東品川3-32-42 ISビル 2階
代表者 代表取締役社長 八木貴郎
ホームページ https://xtia.co.jp/

【お問い合わせ先】
ミツテック株式会社 M&V事業部
Mail:tec_mv_info@mitsu.co.jp
TEL:0799-85-3035
HP:http://www.mitsu.co.jp/tech/