配線層はN3世代のものを踏襲するも
SOICへの親和性がさらに高まる
配線に関しては、こちらも詳細は明らかにされなかったが、MoL(Middle of Line:M4~M14位の配線層)の抵抗値と寄生容量の積を55%削減し、これにより動作周波数にして6%の改善が実現したとしている。
抵抗と寄生容量でRC回路が構成され、このRC回路の時定数が律速条件になるという話は連載464回で説明した。つまりRCの積を55%削減したら、時定数が6%減ったということである
また、M1/M2はN3/N3Eと比較して全体の寄生容量を10%減らせたとしている。ただ配線層、基本的にはN3世代のものを踏襲しているようだ。加えて垂直方向の接続を行なうVIAに関しても、抵抗値で25%、RCの積で20%の削減を実現したとする。
VIAも、抵抗値で25%、RCの積で20%の削減。ただし、これがどういう配線構造や材料を利用したのかは未公開のまま。193i 1P/1E(One Patterning/One Etching)なので、ArFのシングルパターニングで実現しているようだ
その配線だが、N2では3次元集積化技術SOICへの親和性がさらに高まったらしい。まず従来だとアルミだったバックエンドの配線はすべて銅ベースになり、SOICを簡単に実現できるようになった。配線も最小で4.5μmにすることが可能になったとする。
N2ではSOICへの親和性がさらに高まった。Zen 3の3D V-Cacheの場合、17μmピッチだったことを連載651回で説明している
ただ以前Zen 3の3D V-Cacheの時にはKOZ(Keep Out Zone:熱などによる歪の影響を避けるために、なにも配線しない領域)が6.2μm×6.3μmとけっこう大きかったのだが、そもそもの配線ピッチが4.5μmまで縮小すると、KOZはどのくらいになるのだろうか? というのはやや疑問だ。
配線全体の断面が下の画像だ。配線層の総数が18層なのがこれでわかった。ちなみにN3では確か16層(M0~M15)だったので、MOLが2層増えたかたちになる。
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