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ロードマップでわかる!当世プロセッサー事情 第861回

INT4量子化+高度な電圧管理で消費電力60%削減かつ90%性能アップ! Snapdragon X2 Eliteの最先端技術を解説

2026年02月02日 12時00分更新

文● 大原雄介(http://www.yusuke-ohara.com/) 編集●北村/ASCII

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設計の最適化により最小電圧を低減
これが性能向上につながる

 少し不思議なのは次の画像だ。報道によれば、Snapdragon X EliteはTSMC N4、Snapdragon X2 EliteはTSMC N3での製造になっているのだが、こちらでは5nmと4nmの性能比較になっている。

ROはRing Oscillatorの略。ロジック回路の基本的な動作を測定するには妥当な選択だが、さすがに同じリーク電流で21%の高速化がTSMC N5→N4で実現するとは考えにくい

 なのだが、TSMC N4は基本TSMC N5をベースに若干の改良(セルライブラリーの高密度化やジオメトリーの手直し)を図った程度で基本そこまで性能が変わらない。ところがロジック回路で最大21%の性能改善、SRAMで10%の性能向上と70%のリーク削減というのは明らかにおかしく、これは5nmと4nmの比較ではなく、4nmと3nmの比較なように思われる。

 表現はともかくとして、プロセスの微細化で性能は上がっているわけだが、実はここも細かい話がいくつか不明である。TSMCの場合、N3世代でFinFlexと呼ばれる技術を導入した。これは省電力/高密度と高性能のバランスを取るために、NMOSとCMOSのフィンの数を変更するもので、2-1/2-2/3-2という3種類の構成が用意されているが、今回Qualcommはこの2-1を利用して省電力に思いっきり振ったのかもしれない。

 ただCPUに関してはむしろピークの動作周波数が引きあがっているあたりは、CPUはクリティカルパスには3-2のような高性能向けの構成を使うが、NPUは2-1のような高密度/高効率構成を選んだ、という可能性もある。上の画像は2-1構成の場合、と考えると納得はできる。

 その構成に関するヒントが下の画像である。FinFlexで言えば、HD cellというのが2-1、HP cellというのが3-2、Multi-WNSというのがおそらく2-2構成である。で、Snapdragon X2 Eliteではこの3種類を組み合わせたハイブリッド・ライブラリーを利用するとしており、これでなるべく性能/消費電力比を高めようとしている。

基本はMulti-W、つまり2-2構成であり、一部2-1と3-2を混ぜているという感じである。上の画像の説明ではNPUは2-1が主体か? と書いたが、実際は2-2が主体なのかもしれない。2-1は動作周波数があまり上がらない、L3キャッシュなどに限られるのかもしれない

 さて、この論文のタイトルはSystem Optimizationとなっているが、説明として「STCOやDTCO、DPCOといった技法を通じてプロセッサーの設計におけるPPACの大幅な改善を実現した」とある。STCO(System-Technology Co-Optimization)はシステム技術最適化、DTCO(Design-Technology Co-Optimization)は設計技術最適化、DPCO(Design-Process Co-Optimization)は設計プロセス最適化とでも呼ぶべき技術であり、この結果としてPPA(性能、面積、コスト)に加えC(コスト)面での最適化も実現できた、という話である。

 最適化、というよりもバランスの問題であり、どのあたりでバランスを取るのがトータルとして一番適切かを見極めるのがこれらの技法である。STCOで、電源電圧をどこまで下げるのが適切かを示したのが下の画像だ。

下げすぎると動作しないセルが発生するので、セルの構造に応じてVddをどこまで下げるのか調整が必要という話だ

 Total Effective Powerで見れば、0.4Vあたりまで下げるのが一番効果的ではあるのだが、それでは10%以上利用できないセルが出てきてしまう。このあたりを勘案して、Vddをどこまで下げるかを決定したとしている。実際にはセルごとに細かく最適化することで、通常よりも低めに中心値をシフトさせることが可能になったとしている。

通常の設計技法よりも細かく検証するとともに、DFT(Design For Testing)の技法も使うことで、Vminのばらつきを抑えることに成功した

 ロジックだけでなくメモリーに関しても同様の最適化を施すことで、Vminのばらつきをはるかに小さく抑えられた、とする。

SNM(Static Noise Margin)はSRAMの動作の安定性の指標で、これが大きいほど安定して動作する

 また同様の技法でCPUのVminも最大80mVほど低減できた、としている。もっとも右の内訳をみてみると、Design Optimizationによる低減と同じくらい、Gate profile tuningの低減分が大きくなっており、かなりプロセスそのものに手を入れたように見える。

Vminを下げると、CPU待機時の消費電力をそれだけ抑えられる

 他にもIDDQ(IDD Quiescent)を機能ブロックごとに低減させたりといった細かい工夫がなされたとする。ちなみにこのケースで言えば、Block-Aは設計値と実際の値が一致しているが、Block-Bでは10%ほど低減させることに成功している。ただ具体的にどんな機能ブロックなら低減できたか、の説明はなかった。

IDDQは回路が静止状態に流れる電流のこと。理屈から言えばゼロにしたいところだが、実際にはゼロにならずわずかに電流が流れる。これをどこまで減らすのかは待機時電力を減らす際に非常に重要になる

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