キヤノンは12月27日、米国国立標準技術研究所（NIST）が主催する顔認証ベンチマークテストにて、同社のアルゴリズムが日本1位／世界トップクラスの精度を達成したと発表した。
現在、顔認証技術を公正に評価するための指標としてNISTのベンチマークテストを用いる動きが広がっており、キヤノンではNISTが実施するベンチマークテストのひとつである最大1200万人の大規模データを用いて認証の精度を評価するFRVT（Face Recognition Vendor Test）に応募。FRVTには世界およそ90の企業や大学などから300を超えるアルゴリズムが提出されている。
キヤノンが開発中の顔認証技術は、本人の撮影画像1枚と他人を含む複数の画像を照合する「1:N照合」のうち、人物検索の精度を判定するInvestigationの4カテゴリーで日本1位、世界トップクラスの精度を達成。なかでも「Visa Borderカテゴリー」におけるエラー率は0.15%、「Mugshot Webcamカテゴリー」においては0.63%を記録。
それぞれのカテゴリーテストにおけるベンダー順位（日本／世界）は、Visa Borderカテゴリー：1位／4位、Mugshot Webcamカテゴリー：1位／2位、Visa Kioskカテゴリー：1位／6位、Mugshot Profileカテゴリー：1位／11位となり、世界のトップレベルの精度となった。
キヤノンでは、今後も日本国内で開発した独自のAI技術を駆使した顔認証技術を提供するとともに映像解析ソリューションによって、さまざまな業務におけるDXを支援するとしている。
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