第13回総合検査機器展「JIMA 2026」に出展 ～半導体・電池分野の開発加速と品質向上を支える最新技術を紹介～

キヤノンMJ
キヤノンマーケティングジャパン株式会社（代表取締役社長：足立正親、以下キヤノンMJ）は、2026年9月16日（水）から18日（金）までの3日間、東京ビッグサイト東1-3ホールで開催される第13回総合検査機器展「JIMA 2026」に出展します。検査・計測分野における効率化やデジタル化へのニーズが高まる中、迅速かつ高度な研究開発を支援する最先端のX線分析装置を紹介します。



総合検査機器展「JIMA 2026」は、非破壊検査・外観検査・品質管理などの検査機器やシステム開発に特化した専門展示会です。キヤノンMJブースでは、国内独占販売契約を締結しているSigray（シグレイ）社（Sigray, Inc. 、本社：アメリカ合衆国カリフォルニア州ベニシア市、CEO：Dr. Wenbing Yun）の各種X線分析装置を紹介します。今年新たにラインアップに加わった製品や最新の測定事例を紹介するとともに、解析技術の動向を解説します。

また、セミナー会場ではキヤノンMJ産業機器事業部の担当者が登壇し、「半導体・電池向けSigray最先端X線解析ソリューション提案」セミナーを開催します。半導体の微細欠陥や電池内部構造を非破壊で可視化するX線CT装置や、大型半導体基板やラミネートセル電池などの不良解析・品質改善を支援する最先端のハイブリッド型CT装置を紹介します。

■X線分析装置紹介ページ
https://canon.jp/biz/product/indtech/sigray

■出展予定製品

１．ハイブリッド型ナノ3DX線顕微鏡「ApexHybrid-210TM」
販売開始直後のハイブリッド型ナノ3DX線顕微鏡です。2種類の入射モードを搭載しており、斜入射モードでは大型平板状の半導体基板や車載電池の観察に特化しています。また、直交入射モードでは、業界最高水準の空間分解能0.40μm以下を実現しています。この2種のモードにより半導体基板や電池材料などの解析において、高精度かつ高速測定を両立します。

２．ナノX線顕微鏡「EclipseXRM-910TM」
ナノフォーカスX線源と高感度検出器を搭載したX線顕微鏡です。微細構造解析や材料評価などの用途に対応しており、空間分解能 300nm により、非破壊で内部構造の可視化を実現します。

３．蛍光X線分析装置「AttoMapTM」
特許取得済みの独自技術による高輝度X線源を用いた蛍光X線分析装置です。微量元素の分布を高感度で可視化でき、半導体や材料科学、ライフサイエンスなどの幅広い分野でシンクロトロン並みの元素マッピング分析を行うことが可能です。

４．X線吸収分光装置「QuantumLeap」
特許取得済の高輝度マルチターゲットX線源と、放射光施設で培ったX線光学技術を備えたX線吸収分光装置です。約100µmの空間分解能とサブeVのエネルギー分解能を有し、材料の化学状態を精密かつ高速で解析します。

※すべての展示はパネルを使用した製品紹介です

■セミナー概要

タイトル：半導体・電池向けSigray最先端X線解析ソリューション提案
日時：9月16日（水） 13:30～14:15
会場：東京ビッグサイト 東1ホール セミナー会場J1

■JIMA 2026 開催概要

会期：2026年9月16日（水）～18日（金） 10:00～17:00
会場：東京ビッグサイト 東1-3ホール
主催：一般社団法人 日本検査機器工業会
キヤノンMJ ブース位置：J-52
入場料：無料（要事前登録）
URL：https://www.jima-show.jp/

・一般の方のお問い合わせ先：
産業機器事業部　第一営業部　営業第三課　03-3740-3399（直通）